ICTテストの三極管の誤りを理解する必要があります
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ICTテストの三極管の誤りを理解する必要があります
一.ICTの三極管に対する利得試験を明確に理解するために,まず三極管のβh(FE)との違いは、以下の通りである.
βh(FE)とは違いますが、多くの人がトランジスタを使うときにこの2つの概念を混同しています.
βトランジスタの交流電流増幅係数を指し、トランジスタの交流変化信号に対する電流増幅能力を表す.β変化するコレクタ電流△Icと変化するベース電流Aとの数の比、すなわち1536384641に等しい.png.例えば、あるトランジスタのベース電流が0.010 mAから0.028 mAに変化すると、0.990 mAから1.972 mAにいくつか変化する.このトランジスタのβ値は次のように計算されます.
1536384671.png
hFEとはトランジスタの直流増幅係数のことであり、βに表示されます.hFEとは、静的(無変化信号入力)の場合、トランジスタIcとIbとの比、すなわち1536384712をいう.png.
例えば、IbがO.028 mAである場合、Icは1.972 mAであり、hFE=1.972+0.028≒71となる.β値はhFEと密接に関係しており,一般的には近いが等しいが,両者は意味的に明らかな違いがあり,また多くの場合においてβhFEに等しくなく、甚だしきに至っては大きな差があるので、それらを混同してはならない.一般的にトランジスタのβ及びhFEは、主にトランジスタの構造及び製造工程を決定するが、作動電流の影響も受け、作動電流が過小及び過大となると、β値とhEFは著しく小さくなる.
ではICTは三極管のβ値は?
1,ICTテストは、しばしば業界の従業員に静的テストと呼ばれ、時間とともに変化する量を静的量とする.素子の基準値と効率的に比較するために、試験値は一定量であるに違いない.
2、容量テストはAC信号だと言う人もいるが、容量テストの場合、システムはAC小信号を与えるが、回路中でアナログ運転を通じて数学演算を行い、ADの量は固定量である.
3,それではICTは三極管をテストしてどうしてテストすることができませんβ値は、まずICTがオンラインテストとして、トランジスタが回路基板に装着.ベースに微小アンペアレベルのAC電流を供給する、CEレベルの電流変化量を試験する.
4、回路設計においては、安定回路として、NPNを例に三極管のベースとエミッタとの間に抵抗を置くことが多いが、ベース励起のマイクロアンペアレベルの小信号は、この抵抗によって大部分吸収され、CEにおける電流変化量とベース励起の小電流とは直接比例計算ができない.
直流利得こそ正道だ.
なぜ三極管の直流利得をテストするのか、下図を見てください.
画像4.png
これは三極管のDATASHEETの部分を切り取って、その直流電流利得の模型テストの相関パラメータを見ることができる.
図に示すように、ICの電流値を満たす後、試験IBの電流を検出して直流ゲインを算出する.
上記の図に示すように、直流ゲイン範囲とする.一般に、試験の上下限を設定際には、範囲を広くする必要がある、そうでないとエラーが発生する.
また、三極管のベースとエミッタとの間に回路に既知の抵抗があるとしても、実際にベースを流れる真の電流をソフトウェアで算出することでhEFを得ることができる.
注意:誰かがあなたに言ったら、彼/彼女の設備は三極管をテストすることができます.β気をつけてね!
一.ICTの三極管に対する利得試験を明確に理解するために,まず三極管のβh(FE)との違いは、以下の通りである.
βh(FE)とは違いますが、多くの人がトランジスタを使うときにこの2つの概念を混同しています.
βトランジスタの交流電流増幅係数を指し、トランジスタの交流変化信号に対する電流増幅能力を表す.β変化するコレクタ電流△Icと変化するベース電流Aとの数の比、すなわち1536384641に等しい.png.例えば、あるトランジスタのベース電流が0.010 mAから0.028 mAに変化すると、0.990 mAから1.972 mAにいくつか変化する.このトランジスタのβ値は次のように計算されます.
1536384671.png
hFEとはトランジスタの直流増幅係数のことであり、βに表示されます.hFEとは、静的(無変化信号入力)の場合、トランジスタIcとIbとの比、すなわち1536384712をいう.png.
例えば、IbがO.028 mAである場合、Icは1.972 mAであり、hFE=1.972+0.028≒71となる.β値はhFEと密接に関係しており,一般的には近いが等しいが,両者は意味的に明らかな違いがあり,また多くの場合においてβhFEに等しくなく、甚だしきに至っては大きな差があるので、それらを混同してはならない.一般的にトランジスタのβ及びhFEは、主にトランジスタの構造及び製造工程を決定するが、作動電流の影響も受け、作動電流が過小及び過大となると、β値とhEFは著しく小さくなる.
ではICTは三極管のβ値は?
1,ICTテストは、しばしば業界の従業員に静的テストと呼ばれ、時間とともに変化する量を静的量とする.素子の基準値と効率的に比較するために、試験値は一定量であるに違いない.
2、容量テストはAC信号だと言う人もいるが、容量テストの場合、システムはAC小信号を与えるが、回路中でアナログ運転を通じて数学演算を行い、ADの量は固定量である.
3,それではICTは三極管をテストしてどうしてテストすることができませんβ値は、まずICTがオンラインテストとして、トランジスタが回路基板に装着.ベースに微小アンペアレベルのAC電流を供給する、CEレベルの電流変化量を試験する.
4、回路設計においては、安定回路として、NPNを例に三極管のベースとエミッタとの間に抵抗を置くことが多いが、ベース励起のマイクロアンペアレベルの小信号は、この抵抗によって大部分吸収され、CEにおける電流変化量とベース励起の小電流とは直接比例計算ができない.
直流利得こそ正道だ.
なぜ三極管の直流利得をテストするのか、下図を見てください.
画像4.png
これは三極管のDATASHEETの部分を切り取って、その直流電流利得の模型テストの相関パラメータを見ることができる.
図に示すように、ICの電流値を満たす後、試験IBの電流を検出して直流ゲインを算出する.
上記の図に示すように、直流ゲイン範囲とする.一般に、試験の上下限を設定際には、範囲を広くする必要がある、そうでないとエラーが発生する.
また、三極管のベースとエミッタとの間に回路に既知の抵抗があるとしても、実際にベースを流れる真の電流をソフトウェアで算出することでhEFを得ることができる.
注意:誰かがあなたに言ったら、彼/彼女の設備は三極管をテストすることができます.β気をつけてね!