当直回路プログラムブロックテスト

1.クロックテスト

void Init_clk(void)
 {
 unsigned int i; 
 
BCSCTL1=0X00; // BCSCTL1 
 //XT2 ,LFTX1 ,ACLK 1
 do
 {
 IFG1 &=~OFIFG; // OSCFault 
 for(i=0x20;i>0;i--); //IFG1 1
 }
 while((IFG1 & OFIFG)== OFIFG);// OSCFault=1
 
 
BCSCTL2=0X00;
BCSCTL2 += SELM_2;            //MCLK TX2CLK, 1  8MHZ
BCSCTL2 += SELS +DIVS_3;      //SMCLK TX2CLK, 8  1MHZ
return;
を できる.
} 
2.TIMER Aテスト：
  
カウントアップモードでは、TA OUT 1=50/1 M=0.05 MS の 、つまり20 kHZの 、OUTMOD 3、すなわちCCR 1、SET、CCR 0、RESETにカウントされる.P 2.3 の を できます.
void Init_timer(void)
 {
 P2SEL |= BIT3;
 P2DIR |= BIT3;
 CCR0 = 50;
 CCR1 = 25;
 TACCTL1 = OUTMOD_3;
 TACTL = TASSEL_2 | MC_1 | TACLR; //SMCLK TA   
 }
  3.ADテスト:AD り み に1つのLEDを し、オシロスコープがLEDの が1 msであることを する.TA OUT 1は0.05 msであるため、AD は0.05 msごとに1 Num＿of_Results=10、10 の を するには0.5 ms、LED は0.5*2=1 ms 
void Init_ADC(void)
 {
 P2DIR = 0xFF;
 P2OUT = 0x00;
 P6SEL |= 0x01; //  ADC P6.0 A0
 ADC12CTL0 = ADC12ON+SHT0_1; //  ADC， 
 ADC12CTL1 = SHP+CONSEQ_2+SHS_1; //  
 //ADC12CTL1 = ADC12SSEL_3+ADC12DIV_0; //ADC SMCLK 1MHZ
 // 
 ADC12MCTL0 = INCH_0;
 ADC12IE = 0x0001; //  
 }
4. :(1)MSCではなく、シングルチャネルシーケンス を した 、 ごとにSHIでトリガしてほしいというのは、タイマーTA OUT 1 の ち がりエッジでトリガし、 はできない(2)ADC 12のカーネルクロックを せずに、 エラーを してもよいが、 は であり、 のサンプリング が しているのか、 である
 
 
#include 
 #include 
 #define Num_of_Results 10
 int results[Num_of_Results] = {0};
 
 
void Init_clk(void);
 void Init_timer(void);
 void Init_ADC(void);
 
 
//******************** ***************************
 void main(void)
 {
 WDTCTL =WDTPW + WDTHOLD; // 
 
 
//P1SEL |= (BIT2+BIT6);
 //P1DIR |= (BIT2+BIT6);
 //P2OUT |= 0xf0;
 //P5SEL |= BIT5+BIT4;
 //P5DIR |= BIT5+BIT4;
 
 
Init_clk();
 Init_ADC();
 Init_timer();
 ADC12CTL0 |= ENC; //  
 _BIS_SR(GIE); // 
 
 
while(1)
 {
 }//while
 }//main
 
 
#pragma vector=ADC_VECTOR
 __interrupt void ADC12ISR (void)
 {
 static unsigned int index = 0;
 results[index++] = ADC12MEM0; // Move results
 if (ADC12MEM0 < 0x7FF)
 P2OUT &= ~0xF0;
 else
 P2OUT |= 0xF0;
 if (index == Num_of_Results)
 {
 index = 0;
 P2OUT ^= 0X01;
 }
 }